Прискорене тестування схем цифрових пристроїв
Вантажиться...
Файли
Дата
Автори
Науковий керівник
Редактор
Інші учасники
Відповідальний
ORCID
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
DOI
Альтернативна назва
Анотація
В роботі розглянуто способи прискореного тестування схем цифрових пристроїв. Проаналізовано реалізацію різних методик тестування цифрових схем для вибору серед них таких сполучень процедур пошуку несправностей, які найкраще використовують апаратні властивості засобів внутрішньосхемного тестування.
Methods of accelerated testing of circuits of digital devices are considered in this work. The implementation of various methods of testing digital circuits has been analyzed to choose among such combinations of troubleshooting procedures that best utilize the hardware properties of in-circuit testing.
Methods of accelerated testing of circuits of digital devices are considered in this work. The implementation of various methods of testing digital circuits has been analyzed to choose among such combinations of troubleshooting procedures that best utilize the hardware properties of in-circuit testing.
Опис
УДК
Тип документа
Мова
ISSN
Посилання на публікацію
Серія, номер
ISBN
ББК
Інші ідентифікатори
Пов’язані матеріали
Спонсорська підтримка
Правовласник
Бібліографічний опис
Драчук С. В. Прискорене тестування схем цифрових пристроїв [Електронний ресурс] / С. В. Драчук, В. С. Озеранський // Матеріали XLVII науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 14-23 березня 2018 р. – Електрон. текст. дані. – 2018. – Режим доступу: https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-fitki/all-fitki-2018/paper/view/5353.