Засіб вхідного контролю молекулярної структури некристалічних напівпровідників
Вантажиться...
Дата
Науковий керівник
Редактор
Інші учасники
Відповідальний
ORCID
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
DOI
Альтернативна назва
A tool for incoming inspection of the molecular structure of non-crystalline semiconductors
Анотація
Запропоновано апаратно-програмну реалізацію засобу вхідного контролю молекулярної структури некристалічних напівпровідників на основі частотних вимірювальних перетворювачів. Проведено аналіз основних метрологічних характеристик розробленого засобу вхідного контролю.
Опис
Ключові слова
некристалічні напівпровідники , вхідний контроль , контроль молекулярної структури , засіб вхідного контролю , частотний вимірювальний перетворювач , статична характеристика , non-crystalline semiconductors , incoming inspection , molecular structure control , incoming inspection tool , frequency measuring converter , static characteristic
УДК
Тип документа
Мова
Є частиною
ISSN
Посилання на публікацію
Серія, номер
ISBN
ББК
Інші ідентифікатори
Пов’язані матеріали
Спонсорська підтримка
Правовласник
Бібліографічний опис
Осадчук О. В. Засіб вхідного контролю молекулярної структури некристалічних напівпровідників [Текст] / О. В. Осадчук, С. В. Барабан, Р. В. Криночкін // Вісник Вінницького політехнічного інституту. - 2012. - № 6. - С. 146-151.