Засіб вхідного контролю молекулярної структури некристалічних напівпровідників

Abstract

Запропоновано апаратно-програмну реалізацію засобу вхідного контролю молекулярної структури некристалічних напівпровідників на основі частотних вимірювальних перетворювачів. Проведено аналіз основних метрологічних характеристик розробленого засобу вхідного контролю.