| dc.contributor.advisor | Довгалець, С. М. | uk |
| dc.contributor.author | Маркевич, О. О. | uk |
| dc.date.accessioned | 2019-02-14T13:03:32Z | |
| dc.date.available | 2019-02-14T13:03:32Z | |
| dc.date.issued | 2017 | |
| dc.identifier.citation | Рефрактометричний метод на основі поверхневого плазмонного резонансу [Електронний ресурс] : [презентація] / О. О. Маркевич ; Вінницький національний технічний університет ; Факультет комп’ютерних систем та автоматики ; Кафедра автоматики та інформаційно-вимірювальної техніки. - Електронні текстові дані (1 файл: 671 Кбайт). - Вінниця, 2017. - Назва з екрана. | uk |
| dc.identifier.uri | http://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/23842 | |
| dc.description | Керівник: канд. техн. наук, доц. Довгалець С. М. | uk |
| dc.description.abstract | В даній роботі розроблено рефрактометричний метод для рідких середовищ на основі явища поверхневого плазмонного резонансу на межі поділу «метал-діелектрик», який дозволяє виключити вплив електричних параметрів джерела та приймача випромінювання на точність вимірювань.
Також на основі даного методу розроблено структурну схему рефрактометра. | uk |
| dc.description.abstract | In this work designed scheme of refractometric method for liquid medium based on surface plasmon resonance phenomenonat «metal-dielectric» boundary division. This allows to excludeelectric parameters effect of radiation source and receiver on measurement precision.
Also designed refractometricdevice structure schemebased on that method. | en |
| dc.language.iso | uk_UA | uk_UA |
| dc.publisher | ВНТУ | uk |
| dc.subject | рефрактометричний метод | uk |
| dc.subject | поверхневий плазмонний резонанс | uk |
| dc.subject | резонанс | uk |
| dc.subject | джерела випромінювання | uk |
| dc.subject | товщина напилення | uk |
| dc.subject | резонансна крива | uk |
| dc.subject | 8.05020101 | |
| dc.title | Рефрактометричний метод на основі поверхневого плазмонного резонансу | uk |
| dc.type | Presentation | |
