Засіб вимірювання товщини діелектричних покриттів металевих поверхонь
| dc.contributor.advisor | Возняк, О. М. | uk |
| dc.contributor.author | Костюк, О. В. | uk |
| dc.date.accessioned | 2019-04-11T12:37:47Z | |
| dc.date.available | 2019-04-11T12:37:47Z | |
| dc.date.issued | 2017 | |
| dc.identifier.citation | Засіб вимірювання товщини діелектричних покриттів металевих поверхонь [Електронний ресурс] : [презентація] / викон. О. В. Костюк ; Вінницький національний технічний університет ; Факультет комп'ютерних систем та автоматики ; Кафедра метрології та промислової автоматики. – Електронні текстові дані (1 файл: 537 Кбайт). – Вінниця, 2017. – Назва з екрана. | uk |
| dc.identifier.uri | http://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/24371 | |
| dc.description | Керівник: канд. техн. наук, доц. Возняк О. М. | uk |
| dc.description.abstract | Для вирішення поставленої задачі були проаналізовані методи та засоби, які сьогодні використовуються для вимірювання товщини покриттів. Серед інших в якості основи обраний ємнісний метод, як такий, що забезпечує найбільшу чутливість в заданому діапазоні товщини. Проаналізовані аналогічні прилади, розроблена структура засобу вимірювання на базі комутаційної схеми вимірювання ємності, На базі структурної схеми розроблена функціональна схема пристрою, яка дозволила визначитись з основними електронними компонентами, що були використані в схемі. Розроблена принципова схема засобу вимірювання. Були оцінені основні метрологічні характеристики, серед яких чутливість, яка не перевищила значення 3,98·106 м-1. Проведені економічні розрахунки, які підтверджують доцільність нової розробки. | uk |
| dc.language.iso | uk_UA | uk_UA |
| dc.publisher | ВНТУ | uk |
| dc.subject | засіб вимірювання | uk |
| dc.subject | покриття діелектричне | uk |
| dc.subject | вимірювання товщини | uk |
| dc.subject | перетворення | uk |
| dc.subject | вимірювальний канал | uk |
| dc.subject | 7.05100101 | |
| dc.title | Засіб вимірювання товщини діелектричних покриттів металевих поверхонь | uk |
| dc.type | Presentation |