Формування контролепридатних структур цифрових пристроїв для систем діагностування

Abstract

Проаналізовано особливості формування штучних контролепридатних структур за допомогою внесення до складу схеми цифрового пристрою (ЦП) тимчасових зв’язків між внутрішніми вузлами. З’ясовано умови реструктуризації схеми ЦП, які пристосовані до організації процесу тестування.

The features of formation of testability artificial structures by making the circuit of the digital unit (DU) temporal relations between internal nodes. Conditions of restructuring scheme securities that are adapted to the organization of the testing process.