Показати скорочену інформацію

dc.contributor.authorОсадчук, В. С.uk
dc.contributor.authorОсадчук, О. В.uk
dc.contributor.authorДуда, Р. В.uk
dc.date.accessioned2016-01-21T11:59:22Z
dc.date.available2016-01-21T11:59:22Z
dc.date.issued2013
dc.identifier.citationОсадчук В. С. Мікроелектронний сенсор із частотним виходом для визначення часу життя носіїв заряду методом модуляції провідності в точковому контакті [Електронний ресурс] / В. С. Осадчук, О. В. Осадчук, Р. В. Дуда // Наукові праці Вінницького національного технічного університету. - 2013. - № 4. - Режим доступу : http://praci.vntu.edu.ua/index.php/praci/article/view/386.uk
dc.identifier.issn2307-5376
dc.identifier.urihttp://praci.vntu.edu.ua/index.php/praci/article/view/386
dc.identifier.urihttp://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/4768
dc.description.abstractУ технологіях виготовлення напівпровідникових приладів використовують різні методи дослідження їхніх параметрів, які оцінюють за зміною структурно-чутливих електричних параметрів – дифузійної довжини пробігу нерівноважних носіїв заряду LD та часу їхнього життя τ [4]. Відомі методики [1] визначення цих параметрів дозволяють визначити LD і τ для об'єму напівпровідників, тому важливим завданням цієї роботи було вивчити можливості визначення τ за допомогою перетворення напруги в частоту. Подальший аналіз та обробка частотного сигналу дозволяє підвищити точність визначення τ. При цьому розглядали методику вимірювання часу життя носіїв заряду методом модуляції провідності в точковому контакті.uk
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherВНТУuk
dc.subjectчас життяuk
dc.subjectдифузійна довжинаuk
dc.subjectнерівноважні носії зарядуuk
dc.subjectмодуляціяuk
dc.subjectточковий контактuk
dc.titleМікроелектронний сенсор із частотним виходом для визначення часу життя носіїв заряду методом модуляції провідності в точковому контактіuk
dc.typeArticle
dc.identifier.udc621.382


Файли в цьому документі

Thumbnail

Даний документ включений в наступну(і) колекцію(ї)

Показати скорочену інформацію