• English
    • українська
  • English 
    • English
    • українська
  • Login
View Item 
  • Frontpage
  • Науково-технічна бібліотека
  • Публікації співробітників бібліотеки
  • JetIQ
  • View Item
  • Frontpage
  • Науково-технічна бібліотека
  • Публікації співробітників бібліотеки
  • JetIQ
  • View Item
Сайт інституційного репозитарію ВНТУ містить роботи, матеріали та файли, які були розміщені докторантами, аспірантами та студентами Вінницького Національного Технічного Університету. Для розширення функцій сайту рекомендується увімкнути JavaScript.

Аналіз стійкості електронних схем до електро-магнітних імпульсних атак

Author
Пугачева, К. В.
Бондаренко, І. О.
Puhacheva, K. V.
Bondarenko, I. O.
Date
2026
Metadata
Show full item record
Collections
  • JetIQ [99]
Abstract
The paper analyzes the vulnerability of modern digital systems and hardware to intentional electromagnetic interference (IEMI) attacks. The mechanisms of hardware failures at the physical level, such as soft errors (bit-flips), clock generator phase jitter, and false triggering of microcontroller reset circuits under the influence of nanosecond ultra-wideband pulses, are considered. The inefficiency of purely software cybersecurity methods against such threats is proven. A comprehensive approach to ensuring hardware resilience is proposed, based on the requirements of electromagnetic compatibility standards (IEC 61000-4-2), which includes the optimization of multilayer printed circuit board topology, local shielding of critical nodes, and the use of high-speed component filtering.
 
У роботі проаналізовано проблематику вразливості сучасних цифрових систем та апаратних засобів до навмисних електромагнітних імпульсних атак (IEMI). Розглянуто механізми виникнення апаратних збоїв на фізичному рівні, таких як «м’які помилки» (bit-flips), фазове тремтіння тактових генераторів та хибне спрацьовування кіл скидання мікроконтролерів під дією наносекундних надширокосмугових імпульсів. Доведено неефективність суто програмних методів кібербезпеки проти таких загроз. Запропоновано комплексний підхід до забезпечення апаратної стійкості, що базується на вимогах стандартів електромагнітної сумісності (ДСТУ IEC 61000-4-2) і включає оптимізацію топології багатошарових друкованих плат, локальне екранування критичних вузлів та застосування швидкісної компонентної фільтрації.
 
URI:
https://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/51337
View/Open
200085.pdf (263.9Kb)

Institutional Repository

FrontpageSearchHelpContact UsAbout Us

University Resources

JetIQLibrary websiteUniversity websiteE-catalog of VNTU

Browse

All of DSpaceCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsTypePublisherLanguageUdcISSNPublicationDOIThis CollectionBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsTypePublisherLanguageUdcISSNPublicationDOI

My Account

LoginRegister

Statistics

View Usage Statistics

ISSN 2413-6360 | Frontpage | Send Feedback | Help | Contact Us | About Us
© 2016 Vinnytsia National Technical University | Extra plugins code by VNTU Linuxoids | Powered by DSpace
Працює за підтримки 
НТБ ВНТУ