• English
    • українська
  • українська 
    • English
    • українська
  • Увійти
Дивитися документ 
  • Головна
  • Матеріали конференцій ВНТУ
  • Молодь в науці: дослідження, проблеми, перспективи
  • Молодь в науці: дослідження, проблеми, перспективи (МН-2026)
  • Дивитися документ
  • Головна
  • Матеріали конференцій ВНТУ
  • Молодь в науці: дослідження, проблеми, перспективи
  • Молодь в науці: дослідження, проблеми, перспективи (МН-2026)
  • Дивитися документ
Сайт інституційного репозитарію ВНТУ містить роботи, матеріали та файли, які були розміщені докторантами, аспірантами та студентами Вінницького Національного Технічного Університету. Для розширення функцій сайту рекомендується увімкнути JavaScript.

Аналіз стійкості електронних схем до електро-магнітних імпульсних атак

Автор
Пугачева, К. В.
Бондаренко, І. О.
Puhacheva, K. V.
Bondarenko, I. O.
Дата
2026
Metadata
Показати повну інформацію
Collections
  • Наукові роботи каф. МБІС [540]
  • Молодь в науці: дослідження, проблеми, перспективи (МН-2026) [90]
Анотації
The paper analyzes the vulnerability of modern digital systems and hardware to intentional electromagnetic interference (IEMI) attacks. The mechanisms of hardware failures at the physical level, such as soft errors (bit-flips), clock generator phase jitter, and false triggering of microcontroller reset circuits under the influence of nanosecond ultra-wideband pulses, are considered. The inefficiency of purely software cybersecurity methods against such threats is proven. A comprehensive approach to ensuring hardware resilience is proposed, based on the requirements of electromagnetic compatibility standards (IEC 61000-4-2), which includes the optimization of multilayer printed circuit board topology, local shielding of critical nodes, and the use of high-speed component filtering.
 
У роботі проаналізовано проблематику вразливості сучасних цифрових систем та апаратних засобів до навмисних електромагнітних імпульсних атак (IEMI). Розглянуто механізми виникнення апаратних збоїв на фізичному рівні, таких як «м’які помилки» (bit-flips), фазове тремтіння тактових генераторів та хибне спрацьовування кіл скидання мікроконтролерів під дією наносекундних надширокосмугових імпульсів. Доведено неефективність суто програмних методів кібербезпеки проти таких загроз. Запропоновано комплексний підхід до забезпечення апаратної стійкості, що базується на вимогах стандартів електромагнітної сумісності (ДСТУ IEC 61000-4-2) і включає оптимізацію топології багатошарових друкованих плат, локальне екранування критичних вузлів та застосування швидкісної компонентної фільтрації.
 
URI:
https://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/51337
Відкрити
200085.pdf (263.9Kb)

Інституційний репозиторій

ГоловнаПошукДовідкаКонтактиПро нас

Ресурси

JetIQСайт бібліотекиСайт університетаЕлектронний каталог ВНТУ

Перегляд

Всі архівиСпільноти та колекціїЗа датою публікаціїАвторамиНазвамиТемамиТипВидавництвоМоваУДКISSNВидання, що міститьDOIЦя колекціяЗа датою публікаціїАвторамиНазвамиТемамиТипВидавництвоМоваУДКISSNВидання, що міститьDOI

Мій обліковий запис

ВхідРеєстрація

Статистика

View Usage Statistics

ISSN 2413-6360 | Головна | Відправити відгук | Довідка | Контакти | Про нас
© 2016 Vinnytsia National Technical University | Extra plugins code by VNTU Linuxoids | Powered by DSpace
Працює за підтримки 
НТБ ВНТУ