Система вхідного контролю некристалічних напівпровідників на основі автогенераторних приладів з від'ємним опором

Abstract

Розроблено систему вхідного контролю некристалічних напівпровідників при виробництві електронних приладів на основі автогенераторних приладів з від’ємним опором. Представлено результати експериментальних досліджень даної системи для контролю молекулярної структури плівок аморфного селеніуму при виробництві електронних приладів.