Засоби вимірювального контролю товщини діелектричних покрить пласких металевих поверхонь
Вантажиться...
Дата
Науковий керівник
Редактор
Інші учасники
Відповідальний
ORCID
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
DOI
Альтернативна назва
Measuring control means for the thickness of dielectric coatings on flat metal surfaces
Анотація
Опис
Ключові слова
УДК
Тип документа
Мова
Є частиною
ISSN
Посилання на публікацію
Серія, номер
ISBN
ББК
Інші ідентифікатори
Пов’язані матеріали
Спонсорська підтримка
Правовласник
Бібліографічний опис
Кучерук В. Ю. Засоби вимірювального контролю товщини діелектричних покрить пласких металевих поверхонь [Текст] / В. Ю. Кучерук, К. В. Овчинников // Перша міжнародна наукова конференція пам'яті професора Володимира Поджаренка "Вимірювання, контроль та діагностика в технічних системах (ВКДТС-2011), 18-20 жовтня 2011 р. - 2011. - С. 96.