Показати скорочену інформацію

dc.contributor.authorКучерук, В. Ю.uk
dc.contributor.authorОвчинников, К. В.uk
dc.date.accessioned2016-02-13T22:16:01Z
dc.date.available2016-02-13T22:16:01Z
dc.date.issued2011
dc.identifier.citationКучерук В. Ю. Засоби вимірювального контролю товщини діелектричних покрить пласких металевих поверхонь [Текст] / В. Ю. Кучерук, К. В. Овчинников // Перша міжнародна наукова конференція пам'яті професора Володимира Поджаренка "Вимірювання, контроль та діагностика в технічних системах (ВКДТС-2011), 18-20 жовтня 2011 р. - 2011. - С. 96.uk
dc.identifier.urihttp://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/8097
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherВНТУuk
dc.subjectвимірюванняuk
dc.subjectвимірювальний перетворювачuk
dc.subjectтовщина покриттяuk
dc.titleЗасоби вимірювального контролю товщини діелектричних покрить пласких металевих поверхоньuk
dc.typeThesis
dc.identifier.udc621.325


Файли в цьому документі

Thumbnail

Даний документ включений в наступну(і) колекцію(ї)

Показати скорочену інформацію