Засоби вимірювального контролю товщини діелектричних покрить пласких металевих поверхонь
dc.contributor.author | Кучерук, В. Ю. | uk |
dc.contributor.author | Овчинников, К. В. | uk |
dc.date.accessioned | 2016-02-13T22:16:01Z | |
dc.date.available | 2016-02-13T22:16:01Z | |
dc.date.issued | 2011 | |
dc.identifier.citation | Кучерук В. Ю. Засоби вимірювального контролю товщини діелектричних покрить пласких металевих поверхонь [Текст] / В. Ю. Кучерук, К. В. Овчинников // Перша міжнародна наукова конференція пам'яті професора Володимира Поджаренка "Вимірювання, контроль та діагностика в технічних системах (ВКДТС-2011), 18-20 жовтня 2011 р. - 2011. - С. 96. | uk |
dc.identifier.uri | http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/8097 | |
dc.language.iso | uk_UA | uk_UA |
dc.publisher | ВНТУ | uk |
dc.subject | вимірювання | uk |
dc.subject | вимірювальний перетворювач | uk |
dc.subject | товщина покриття | uk |
dc.title | Засоби вимірювального контролю товщини діелектричних покрить пласких металевих поверхонь | uk |
dc.type | Thesis | |
dc.identifier.udc | 621.325 |
Файли в цьому документі
Даний документ включений в наступну(і) колекцію(ї)
-
Наукові роботи каф. ІРТС [779]
статті, матеріали конференцій