Пристрій для дослідження багатоемітерних інтегральних транзисторів

Abstract

В даній статті розглянуто осболивості багатоемітерних інтегральних транзисторів. Розроблено пристрій для дослідження багатоемітерних інтегральних транзисторів.

In article features of integrated battleship transistors. Developed device for the study of integrated battleship transistors.