Пристрій для дослідження багатоемітерних інтегральних транзисторів
Abstract
В даній статті розглянуто осболивості багатоемітерних інтегральних транзисторів. Розроблено пристрій для дослідження багатоемітерних інтегральних транзисторів. In article features of integrated battleship transistors. Developed device for the study of integrated battleship transistors.
Please use this identifier to cite or link to this item:
https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-frtzp/all-frtzp-2017/paper/view/3005
http://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/17557