Анализаторы производственных дефектов
| dc.contributor.author | Месюра, В. И. | ru |
| dc.contributor.author | Котов, И. Н. | ru |
| dc.contributor.author | Роик, А. М. | ru |
| dc.contributor.author | Калашников, Э. М. | ru |
| dc.contributor.author | Месюра, В. І. | uk |
| dc.contributor.author | Роїк, О. М. | uk |
| dc.date.accessioned | 2017-07-25T08:59:56Z | |
| dc.date.available | 2017-07-25T08:59:56Z | |
| dc.date.issued | 1986 | |
| dc.identifier.citation | Анализаторы производственных дефектов [Текст] / В. И. Месюра, И. Н. Котов, А. М. Роик, Э. М. Калашников // Структурное и покомпонентное диагностирование устройств радиоэлектронной аппаратуры : тезисы докл. научн. техн. конф. - Mосква : ЦНИИТЭИ, 1986. - С. 54-55. | ru |
| dc.identifier.uri | http://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/17908 | |
| dc.description.abstract | Рассмотрены основные принципы поэлементного диагностирования - нового подхода к диагностированию печатных узлов радиоэлектронной аппаратуры в процессе ее производства. Приведены основные параметры разработанного анализатора производственных дефектов | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | Центральный научно-исследовательский институт информации и технико-экономических исследований Министерства заготовок СССР | ru |
| dc.relation.ispartof | Структурное и покомпонентное диагностирование устройств радиоэлектронной аппаратуры : тезисы докл. научн. техн. конф. : 54-55. | ru |
| dc.title | Анализаторы производственных дефектов | ru |
| dc.type | Article |
Файли в цьому документі
Даний документ включений в наступну(і) колекцію(ї)
-
Наукові роботи каф. КН [825]
статті, матеріали конференцій