Показати скорочену інформацію

dc.contributor.advisorСемеренко, В. П.uk
dc.contributor.authorКравцов, І. А.uk
dc.date.accessioned2020-03-30T16:26:17Z
dc.date.available2020-03-30T16:26:17Z
dc.date.issued2020
dc.identifier.citationКравцов І. А. Діагностика несправностей в цифрових пристроях за допомогою циклічних кодів [Електронний ресурс] / І. А. Кравцов ; наук. кер. В. П. Семеренко // Матеріали XLIX науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 27-28 квітня 2020 р. – Електрон. текст. дані. – 2020. – Режим доступу: https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-fitki/all-fitki-2020/paper/view/9580.uk
dc.identifier.urihttp://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/29430
dc.description.abstractПоказана аналогія між технічною діагностикою та завадостійким кодуванням. Запропоновано використання спільного математичного апарату – теорії лінійних послідовнісних схем (ЛПС) – для пошуку несправностей в цифрових пристроях та пошуку помилок в циклічних кодах. Для формування вхідних тестів використовуються два типи генераторів тестів.uk
dc.description.abstractAn analogy between technical diagnostics and error correction coding is shown. The use of a common mathematical apparatus, the theory of linear finite-state machine (LFSM), for fault diagnosis in digital devices and finding errors in cyclic codes is proposed. Two types of test generators are used to form input tests.en
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherВНТУuk
dc.relation.ispartofМатеріали XLIX науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 27-28 квітня 2020 р.uk
dc.relation.urihttps://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-fitki/all-fitki-2020/paper/view/9580
dc.subjectтехнічна діагностикаuk
dc.subjectзавадостійкі кодиuk
dc.subjectтестuk
dc.subjectлінійна послідовнісна схема (ЛПС)uk
dc.subjecttechnical diagnosticsen
dc.subjecterror correction codeen
dc.subjecttesten
dc.subjectlinear finite-state machine (LFSM)en
dc.titleДіагностика несправностей в цифрових пристроях за допомогою циклічних кодівuk
dc.typeThesis
dc.identifier.udc681.32
dc.relation.referencesE. Dubrova, Fault Tolerant Design: an Introduction.  Boston, USA: Kluwer Academic Publishers, 2008.en
dc.relation.referencesL.-T. Wang, C.-W. Wu and X. Wen, VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability. New York, London: Morgan Kaufmann Publishers, 2006.en
dc.relation.referencesСавченко Ю.Г. Цифровые устройства, нечувствительные к неисправностям елементов. – М. : Радио и связь, 1977. – 176 с.ru
dc.relation.referencesГилл, А. Линейные последовательностные машины : пер. с англ. – М. : Наука, 1974. – 288 с.ru
dc.relation.referencesСемеренко В. П. Теорія циклічних кодів на основі автоматних моделей : монографія. Вінниця : ВНТУ, 2015. – 444 с.  uk
dc.relation.referencesSemerenko V. P., Roik O. M. Testing of digital circuits by cyclic codes / COMPUTATIONAL PROBLEMS OF ELECTRICAL   ENGINEERING. – Lviv, vol. 7, No. 2, 2017. – pp. 78-82.en
dc.relation.referencesБайда Н.П., Кузьмин И. В., Шпилевой В. Т. Микропроцессорные системы поэлементного диагностирования– М. : Радио и связь, 1987. – 256 с.ru


Файли в цьому документі

Thumbnail

Даний документ включений в наступну(і) колекцію(ї)

Показати скорочену інформацію