dc.contributor.advisor | Семеренко, В. П. | uk |
dc.contributor.author | Кравцов, І. А. | uk |
dc.date.accessioned | 2020-03-30T16:26:17Z | |
dc.date.available | 2020-03-30T16:26:17Z | |
dc.date.issued | 2020 | |
dc.identifier.citation | Кравцов І. А. Діагностика несправностей в цифрових пристроях за допомогою циклічних кодів [Електронний ресурс] / І. А. Кравцов ; наук. кер. В. П. Семеренко // Матеріали XLIX науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 27-28 квітня 2020 р. – Електрон. текст. дані. – 2020. – Режим доступу: https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-fitki/all-fitki-2020/paper/view/9580. | uk |
dc.identifier.uri | http://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/29430 | |
dc.description.abstract | Показана аналогія між технічною діагностикою та завадостійким кодуванням. Запропоновано використання спільного математичного апарату – теорії лінійних послідовнісних схем (ЛПС) – для пошуку несправностей в цифрових пристроях та пошуку помилок в циклічних кодах. Для формування вхідних тестів використовуються два типи генераторів тестів. | uk |
dc.description.abstract | An analogy between technical diagnostics and error correction coding is shown. The use of a common mathematical apparatus, the theory of linear finite-state machine (LFSM), for fault diagnosis in digital devices and finding errors in cyclic codes is proposed. Two types of test generators are used to form input tests. | en |
dc.language.iso | uk_UA | uk_UA |
dc.publisher | ВНТУ | uk |
dc.relation.ispartof | Матеріали XLIX науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 27-28 квітня 2020 р. | uk |
dc.relation.uri | https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-fitki/all-fitki-2020/paper/view/9580 | |
dc.subject | технічна діагностика | uk |
dc.subject | завадостійкі коди | uk |
dc.subject | тест | uk |
dc.subject | лінійна послідовнісна схема (ЛПС) | uk |
dc.subject | technical diagnostics | en |
dc.subject | error correction code | en |
dc.subject | test | en |
dc.subject | linear finite-state machine (LFSM) | en |
dc.title | Діагностика несправностей в цифрових пристроях за допомогою циклічних кодів | uk |
dc.type | Thesis | |
dc.identifier.udc | 681.32 | |
dc.relation.references | E. Dubrova, Fault Tolerant Design: an Introduction. Boston, USA: Kluwer Academic Publishers, 2008. | en |
dc.relation.references | L.-T. Wang, C.-W. Wu and X. Wen, VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability. New York, London: Morgan Kaufmann Publishers, 2006. | en |
dc.relation.references | Савченко Ю.Г. Цифровые устройства, нечувствительные к неисправностям елементов. – М. : Радио и связь, 1977. – 176 с. | ru |
dc.relation.references | Гилл, А. Линейные последовательностные машины : пер. с англ. – М. : Наука, 1974. – 288 с. | ru |
dc.relation.references | Семеренко В. П. Теорія циклічних кодів на основі автоматних моделей : монографія. Вінниця : ВНТУ, 2015. – 444 с. | uk |
dc.relation.references | Semerenko V. P., Roik O. M. Testing of digital circuits by cyclic codes / COMPUTATIONAL PROBLEMS OF ELECTRICAL ENGINEERING. – Lviv, vol. 7, No. 2, 2017. – pp. 78-82. | en |
dc.relation.references | Байда Н.П., Кузьмин И. В., Шпилевой В. Т. Микропроцессорные системы поэлементного диагностирования– М. : Радио и связь, 1987. – 256 с. | ru |