Показати скорочену інформацію

dc.contributor.authorБабенко, Олексій Вікторовичuk
dc.contributor.authorПадун, Андрій Васильовичuk
dc.date.accessioned2020-07-17T12:15:04Z
dc.date.available2020-07-17T12:15:04Z
dc.date.issued2020-03-10
dc.identifier140780
dc.identifier.citationПат. 140780 UA, МПК G01N 21/55. Пристрій для вимірювання коефіціентів відбиття [Текст] / О. В. Бабенко, А. В. Падун (Україна). – № u 2019 08799 ; заявл. 22.07.2019 ; опубл. 10.03.2020, Бюл. № 5. – 4 с. : кресл.uk
dc.identifier.urihttp://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/30198
dc.description.abstractПристрій для вимірювання коефіцієнтів відбиття містить оптично зв'язані джерело випромінювання, тримач зразків, рухомий відбивач, на який нанесено відбивне покриття, установлений з можливістю переміщення і приймач випромінювання. Додатково введено вхідний і вихідний циліндри, що розташовані один відносно одного під кутом 90° і відносно тримача зразків під кутом 45°. Початок вхідного циліндра з'єднано з джерелом випромінювання, а його кінець з'єднано з тримачем зразків. Початок вихідного циліндра з'єднано з тримачем зразків, а його кінець з'єднано з приймачем випромінювання. Обидва циліндри зафіксовані в корпусі, що забезпечує їх нерухомість. Рухомий відбивач, на який нанесено відбивне покриття, встановлений з можливістю руху паралельно площині тримача зразків і почергово із зразками, що досліджуються.uk
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherДержавне підприємство "Український інститут інтелектуальної власності" (УКРПАТЕНТ)uk
dc.subjectG01N 21/55
dc.subjectвимірювальна технікаuk
dc.subjectдослідження матеріалівuk
dc.subjectкоефіцієнт відбиття плоских поверхонuk
dc.titleПристрій для вимірювання коефіціентів відбиттяuk
dc.typePatent


Файли в цьому документі

Thumbnail

Даний документ включений в наступну(і) колекцію(ї)

Показати скорочену інформацію