dc.contributor.author | Бабенко, Олексій Вікторович | uk |
dc.contributor.author | Падун, Андрій Васильович | uk |
dc.date.accessioned | 2020-07-17T12:15:04Z | |
dc.date.available | 2020-07-17T12:15:04Z | |
dc.date.issued | 2020-03-10 | |
dc.identifier | 140780 | |
dc.identifier.citation | Пат. 140780 UA, МПК G01N 21/55. Пристрій для вимірювання коефіціентів відбиття [Текст] / О. В. Бабенко, А. В. Падун (Україна). – № u 2019 08799 ; заявл. 22.07.2019 ; опубл. 10.03.2020, Бюл. № 5. – 4 с. : кресл. | uk |
dc.identifier.uri | http://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/30198 | |
dc.description.abstract | Пристрій для вимірювання коефіцієнтів відбиття містить оптично зв'язані джерело
випромінювання, тримач зразків, рухомий відбивач, на який нанесено відбивне покриття,
установлений з можливістю переміщення і приймач випромінювання. Додатково введено
вхідний і вихідний циліндри, що розташовані один відносно одного під кутом 90° і відносно
тримача зразків під кутом 45°. Початок вхідного циліндра з'єднано з джерелом випромінювання,
а його кінець з'єднано з тримачем зразків. Початок вихідного циліндра з'єднано з тримачем
зразків, а його кінець з'єднано з приймачем випромінювання. Обидва циліндри зафіксовані в
корпусі, що забезпечує їх нерухомість. Рухомий відбивач, на який нанесено відбивне покриття,
встановлений з можливістю руху паралельно площині тримача зразків і почергово із зразками,
що досліджуються. | uk |
dc.language.iso | uk_UA | uk_UA |
dc.publisher | Державне підприємство "Український інститут інтелектуальної власності" (УКРПАТЕНТ) | uk |
dc.subject | G01N 21/55 | |
dc.subject | вимірювальна техніка | uk |
dc.subject | дослідження матеріалів | uk |
dc.subject | коефіцієнт відбиття плоских поверхон | uk |
dc.title | Пристрій для вимірювання коефіціентів відбиття | uk |
dc.type | Patent | |