Показати скорочену інформацію

dc.contributor.authorМорозов, О. С.uk
dc.date.accessioned2025-03-17T09:17:27Z
dc.date.available2025-03-17T09:17:27Z
dc.date.issued2020
dc.identifier.citationМорозов О. С. Інформаційна технологія безпечного тестування схем цифрових пристроїв [Електронний ресурс] / О. С. Морозов // Тези доповідей Всеукраїнської науково-практичної Інтернет-конференції студентів, аспірантів та молодих науковців «Молодь в науці: дослідження, проблеми, перспективи» (МН-2020), м. Вінниця, 18-29 травня 2020 р. – Електрон. текст. дані. – 2020. – Режим доступу: https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/mn/mn2020/paper/view/8469.uk
dc.identifier.urihttps://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/44960
dc.description.abstractВ роботі проведено проведено вдосконалення алгоритму упорядкування векторів тестових сигналів в процесі діагностування цифрових пристроїв, розглядається питання алгоритмічного забезпечення програмних засобів тестового покомпонентного пошуку місця несправностей.uk
dc.description.abstractIn work perfection of algorithm of organization of vectors of signals of tests is conducted in the process of diagnosing of digital devices, the question of the algorithmic providing of programmatic test components query of place of disrepairs facilities is examined.en
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherВНТУuk
dc.relation.ispartofТези доповідей Всеукраїнської науково-практичної Інтернет-конференції студентів, аспірантів та молодих науковців «Молодь в науці: дослідження, проблеми, перспективи» (МН-2020), м. Вінниця, 18-29 травня 2020 р.uk
dc.relation.urihttps://conferences.vntu.edu.ua/index.php/mn/mn2020/paper/view/8469
dc.subjectпокомпонентне тестуванняuk
dc.subjectзасоби діагностування схемuk
dc.subjectдефектиuk
dc.subjectдруковані платиAbstractIn work perfection of algorithm of organization of vectors of signals of tests is conducted in the process ofdiagnosing of digital devicesuk
dc.subjectthe question of the algorithmic providing of programmatic test components query ofplace of disrepairs facilities is examineduk
dc.subjectcomponent testinguk
dc.subjectcircuit diagnosis toolsuk
dc.subjectdefectsuk
dc.subjectcircuit boardsВ результаті високих темпів мікромініатюризації електронної бази конструкція і складністьдрукованих плат (ДП) зазнала такі серйозні зміниuk
dc.subjectщо спричинило розробку нових методів контролю якостіяк на стадії виготовленняuk
dc.subjectтак і на стадії ремонтуuk
dc.subjectа також нових тестуючих пристроївuk
dc.titleІнформаційна технологія безпечного тестування схем цифрових пристроївuk
dc.typeThesis
dc.identifier.udc670.5


Файли в цьому документі

No Thumbnail [100%x80]

Даний документ включений в наступну(і) колекцію(ї)

Показати скорочену інформацію