Показати скорочену інформацію

dc.contributor.authorСтрілковський, В. С.uk
dc.contributor.authorКолесник, І. С.uk
dc.contributor.authorОчкуров, М. А.uk
dc.contributor.authorKolesnyk, I. S.en
dc.contributor.authorOchkurov, M. A.en
dc.date.accessioned2025-08-13T09:37:43Z
dc.date.available2025-08-13T09:37:43Z
dc.date.issued2025
dc.identifier.citationСтрілковський В. С., Колесник І. С., Очкуров М. А. Засоби тестування оперативної пам’яті комп’ютера // Матеріали Всеукраїнської науково-практичної інтернет-конференції «Молодь в науці: дослідження, проблеми, перспективи (МН-2025)», Вінниця, 15-16 червня 2025 р. URI: https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/mn/mn2025/paper/view/23009.uk
dc.identifier.isbn978-617-8163-57-0
dc.identifier.urihttps://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/47917
dc.description.abstractЗапропоновано підхід до тестування запам’ятовуючого пристрою комп’ютера в умовах експлуатації.uk
dc.description.abstractThe approach to testing a random-accessed computer memory in operating conditions.en
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherВНТУuk
dc.relation.ispartofМатеріали Всеукраїнської науково-практичної інтернет-конференції «Молодь в науці: дослідження, проблеми, перспективи (МН-2025)», Вінниця, 15-16 червня 2025 р.uk
dc.relation.urihttps://conferences.vntu.edu.ua/index.php/mn/mn2025/paper/view/23009
dc.subjectзапам’ятовуючий пристрійuk
dc.subjectмоделі несправностіuk
dc.subjectпослідовність тестуванняuk
dc.subjectструктура програмиuk
dc.subjectrandom-access memoryuk
dc.subjectmodel of faultsen
dc.subjecttesting sequenceen
dc.subjectprogram structureen
dc.titleЗасоби тестування оперативної пам’яті комп’ютераuk
dc.typeThesis
dc.identifier.udc004.33
dc.relation.referencesO'Regan G. Concise Guide to Software Testing. / G. O'Regan. — New York: Springer, 2019. — 309 p.en
dc.relation.referencesМатвієнко М. П. Архітектура комп’ютера. Навчальний посібник. / М. П. Матвієнко, В. П. Розен, О. М. Закладний — К: Видавництво Ліра-К, 2016. — 264 с.uk
dc.relation.referencesYarmolik V. N., Mrozek I., Yarmolik S. V. Pseudo-exhaustive memory testing based on March A tests. Informatics, 2020, № 2(17), рр. 54–70.en
dc.relation.referencesMrozek, I. Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults / I. Mrozek. – Cham : Springer International Publishing AG, 2019. – 135 p.en
dc.relation.referencesRyabtsev V.G. New Technology for Memory Tests Design / V.G. Ryabtsev, M.K. Almadi // International Journal of Modern Trends in Engineering and Research (IJMTER). Volume 02, Issue 06, 2015. – P. 520–526.en
dc.relation.referencesКоноваленко І. В. Програмування мовою C# 6.0 : навчальний посібник / І. В. Коноваленко.– Тернопіль : ТНТУ, 2017. – 300 с.uk


Файли в цьому документі

Thumbnail

Даний документ включений в наступну(і) колекцію(ї)

Показати скорочену інформацію