| dc.contributor.author | Ярован, Д. О. | uk |
| dc.contributor.author | Мартинюк, В. В. | uk |
| dc.contributor.author | Yarovan, D. | en |
| dc.contributor.author | Martyniuk, V. | en |
| dc.date.accessioned | 2026-03-23T12:34:04Z | |
| dc.date.available | 2026-03-23T12:34:04Z | |
| dc.date.issued | 2026 | |
| dc.identifier.citation | Ярован Д. О., Мартинюк В. В. Недифузійний теплоперенос у наномасштабних транзисторах та новітні термоінтерфейси для мікропроцесорів // Матеріали LV Всеукраїнської науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 24-27 березня 2026 р. Електрон. текст. дані. 2026. URI: https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-feeem/all-feeem-2026/paper/view/27898. | uk |
| dc.identifier.uri | https://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/50944 | |
| dc.description.abstract | The paper examines the peculiarities of heat transfer in nanoscale transistor structures used in modern
microprocessors. It is shown that when device dimensions approach nanometer scale the classical Fourier diffusion
model cannot fully describe the real thermal processes. The role of phonons in heat transport, the mechanisms of
hotspot formation in semiconductor devices, and the prospects of advanced thermal interface materials for improving
heat dissipation are discussed. | en |
| dc.description.abstract | У роботі розглядаються особливості теплопереносу у наномасштабних транзисторних структурах сучасних мікропроцесорів. Показано, що при зменшенні розмірів елементів електронних схем до нанометрів класична дифузійна модель теплопровідності перестає повністю описувати фізичні процеси. Проаналізовано роль фононів у перенесенні теплової енергії, механізми виникнення локальних перегрівів у напівпровідникових структурах та перспективи використання сучасних термоінтерфейсних матеріалів для підвищення ефективності відведення тепла. | uk |
| dc.language.iso | uk_UA | uk_UA |
| dc.publisher | ВНТУ | uk |
| dc.relation.ispartof | Матеріали LV Всеукраїнської науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 24-27 березня 2026 р. | uk |
| dc.relation.uri | https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-feeem/all-feeem-2026/paper/view/27898 | |
| dc.subject | теплоперенос | uk |
| dc.subject | фонони | uk |
| dc.subject | нанотранзистори | uk |
| dc.subject | термоінтерфейсні матеріали | uk |
| dc.subject | мікропроцесори | uk |
| dc.subject | heat transfer | en |
| dc.subject | phonons | en |
| dc.subject | nanoscale transistors | en |
| dc.subject | hotspots | en |
| dc.subject | thermal interface materials | en |
| dc.title | Недифузійний теплоперенос у наномасштабних транзисторах та новітні термоінтерфейси для мікропроцесорів | uk |
| dc.type | Thesis | |
| dc.identifier.udc | 536.24 | |
| dc.relation.references | Hu Y. Defect scattering can lead to enhanced phonon transport at nanoscale / Y. Hu [et al.] // Nature Communications. — 2024.
— Vol. 15. — P. 1–9. | en |
| dc.relation.references | Xu J. Quantitative Analysis of Nonequilibrium Phonon Transport Near a Nanoscale Hotspot / J. Xu, Y. Hu, H. Bao // Physical
Review Applied. — 2023. — Vol. 19, No. 5. — P. 054020. | en |
| dc.relation.references | Non-Fourier phonon heat transport in graphene nanoribbon field-effect transistors // Microelectronics Journal. — 2024. — Vol.
143. — P. 106045. | en |
| dc.relation.references | Analysis of ballistic thermal resistance in FinFETs considering Joule heating // Micro and Nanostructures. — 2025. — Vol. 180.
— P. 201–210. | en |
| dc.relation.references | Liquid Metal Containing Fiber-Reinforced Composites for Thermal Conductivity Enhancement // Applied Composite Materials.
— 2025. — Vol. 32. — P. 405–418. | en |