• українська
    • English
  • українська 
    • українська
    • English
  • Увійти
Дивитися документ 
  • Головна
  • Матеріали конференцій ВНТУ
  • Молодь в науці: дослідження, проблеми, перспективи
  • Молодь в науці: дослідження, проблеми, перспективи (МН-2026)
  • Дивитися документ
  • Головна
  • Матеріали конференцій ВНТУ
  • Молодь в науці: дослідження, проблеми, перспективи
  • Молодь в науці: дослідження, проблеми, перспективи (МН-2026)
  • Дивитися документ
Сайт інституційного репозитарію ВНТУ містить роботи, матеріали та файли, які були розміщені докторантами, аспірантами та студентами Вінницького Національного Технічного Університету. Для розширення функцій сайту рекомендується увімкнути JavaScript.

Вплив точкових дефектів і допування на ефективність фотоелектричного перетворення у перовськітних сонячних елементах

Автор
Кравченко, А. С.
Мартинюк, В. В.
Kravchenko, A. S.
Martyniuk, V. V.
Дата
2026
Metadata
Показати повну інформацію
Collections
  • Молодь в науці: дослідження, проблеми, перспективи (МН-2026) [1343]
Анотації
Проаналізовано механізми зниження ефективності фотоелектричного перетворення в органо-неорганічних перовськітах внаслідок наявності точкових дефектів кристалічної ґратки. Оцінено вплив різних типів точкових дефектів (базових вакансій, міжвузлових атомів, антиструктурних дефектів), а також домішкових станів, що виникають при допуванні, на процеси безвипромінювальної рекомбінації електронно-діркових пар. Встановлено теоретичну залежність коефіцієнта корисної дії від концентрації та енергетичної глибини локалізованих пасток у структурі напівпровідника. Наведено розгорнуті математичні моделі, що описують втрати через рекомбінацію
 
The mechanisms of photoelectric conversion efficiency reduction in organo-inorganic perovskites due to the presence of point defects in the crystal lattice are analyzed. The effect of different types of point defects (intrinsic vacancies, interstitials, antisite defects), as well as impurity states arising during doping, on the non-radiative recombination of electron-hole pairs is evaluated. The theoretical dependence of the efficiency on the concentration and energy depth of localized traps in the semiconductor structure is established. Detailed mathematical models describing losses due to
 
URI:
https://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/52851
Відкрити
29283.pdf (321.0Kb)

Інституційний репозиторій

ГоловнаПошукДовідкаКонтактиПро нас

Ресурси

JetIQСайт бібліотекиСайт університетаЕлектронний каталог ВНТУ

Перегляд

Всі архівиСпільноти та колекціїЗа датою публікаціїАвторамиНазвамиТемамиТипВидавництвоМоваУДКISSNВидання, що міститьDOIЦя колекціяЗа датою публікаціїАвторамиНазвамиТемамиТипВидавництвоМоваУДКISSNВидання, що міститьDOI

Мій обліковий запис

Вхід

ISSN 2413-6360 | Головна | Відправити відгук | Довідка | Контакти | Про нас
© 2016 Vinnytsia National Technical University | Extra plugins code by VNTU Linuxoids | Powered by DSpace
Працює за підтримки 
НТБ ВНТУ