• українська
    • English
  • English 
    • українська
    • English
  • Login
View Item 
  • Frontpage
  • Матеріали конференцій ВНТУ
  • Молодь в науці: дослідження, проблеми, перспективи
  • Молодь в науці: дослідження, проблеми, перспективи (МН-2026)
  • View Item
  • Frontpage
  • Матеріали конференцій ВНТУ
  • Молодь в науці: дослідження, проблеми, перспективи
  • Молодь в науці: дослідження, проблеми, перспективи (МН-2026)
  • View Item
Сайт інституційного репозитарію ВНТУ містить роботи, матеріали та файли, які були розміщені докторантами, аспірантами та студентами Вінницького Національного Технічного Університету. Для розширення функцій сайту рекомендується увімкнути JavaScript.

Вплив точкових дефектів і допування на ефективність фотоелектричного перетворення у перовськітних сонячних елементах

Author
Кравченко, А. С.
Мартинюк, В. В.
Kravchenko, A. S.
Martyniuk, V. V.
Date
2026
Metadata
Show full item record
Collections
  • Молодь в науці: дослідження, проблеми, перспективи (МН-2026) [1343]
Abstract
Проаналізовано механізми зниження ефективності фотоелектричного перетворення в органо-неорганічних перовськітах внаслідок наявності точкових дефектів кристалічної ґратки. Оцінено вплив різних типів точкових дефектів (базових вакансій, міжвузлових атомів, антиструктурних дефектів), а також домішкових станів, що виникають при допуванні, на процеси безвипромінювальної рекомбінації електронно-діркових пар. Встановлено теоретичну залежність коефіцієнта корисної дії від концентрації та енергетичної глибини локалізованих пасток у структурі напівпровідника. Наведено розгорнуті математичні моделі, що описують втрати через рекомбінацію
 
The mechanisms of photoelectric conversion efficiency reduction in organo-inorganic perovskites due to the presence of point defects in the crystal lattice are analyzed. The effect of different types of point defects (intrinsic vacancies, interstitials, antisite defects), as well as impurity states arising during doping, on the non-radiative recombination of electron-hole pairs is evaluated. The theoretical dependence of the efficiency on the concentration and energy depth of localized traps in the semiconductor structure is established. Detailed mathematical models describing losses due to
 
URI:
https://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/52851
View/Open
29283.pdf (321.0Kb)

Institutional Repository

FrontpageSearchHelpContact UsAbout Us

University Resources

JetIQLibrary websiteUniversity websiteE-catalog of VNTU

Browse

All of DSpaceCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsTypePublisherLanguageUdcISSNPublicationDOIThis CollectionBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsTypePublisherLanguageUdcISSNPublicationDOI

My Account

Login

ISSN 2413-6360 | Frontpage | Send Feedback | Help | Contact Us | About Us
© 2016 Vinnytsia National Technical University | Extra plugins code by VNTU Linuxoids | Powered by DSpace
Працює за підтримки 
НТБ ВНТУ