| dc.contributor.author | Главчев, М. І. | uk |
| dc.contributor.author | Glavchev, M. I. | en |
| dc.date.accessioned | 2026-09-11T12:10:43Z | |
| dc.date.available | 2026-09-11T12:10:43Z | |
| dc.date.issued | 2026 | |
| dc.identifier.citation | Главчев М. І. Імітаційна модель для дослідження ефективності методів діагностики пам'яті // Матеріали LV Всеукраїнської науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 24-27 березня 2026 р. Електрон. текст. дані. 2026. Електрон. текст. дані. 2026. URI: https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-fitki/all-fitki-2026/paper/view/27497. | uk |
| dc.identifier.uri | https://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/54262 | |
| dc.description.abstract | дослідження ефективності детермінованих (March-алгоритми) та стохастичних (Random-LFSR) методів діагностики пам'яті. Експериментально визначено покриття різних типів несправностей (SAF, TF, CF, PSF). | uk |
| dc.description.abstract | deterministic (March algorithms) and stochastic (Random-LFSR) memory diagnostic methods. Fault coverage for different fault types (SAF, TF, CF, PSF) was experimentally determined. March B achieves 100% coverage for | en |
| dc.language.iso | uk_UA | uk_UA |
| dc.publisher | ВНТУ | uk |
| dc.relation.ispartof | Матеріали LV Всеукраїнської науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 24-27 березня 2026 р. Електрон. текст. дані. 2026. | uk |
| dc.relation.uri | https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-fitki/all-fitki-2026/paper/view/27497 | |
| dc.subject | імітаційна модель | uk |
| dc.subject | діагностика пам'яті | uk |
| dc.subject | March-алгоритми | uk |
| dc.subject | покриття дефектів | uk |
| dc.subject | Random-LFSR | en |
| dc.subject | simulation model | en |
| dc.subject | memory diagnostics | en |
| dc.subject | March algorithms | en |
| dc.subject | fault coverage | en |
| dc.title | Імітаційна модель для дослідження ефективності методів діагностики пам'яті | uk |
| dc.type | Thesis | |
| dc.identifier.udc | 004.312:004.052 | |
| dc.relation.references | Van de Goor A. J. Testing Semiconductor Memories: Theory and Practice. John Wiley & Sons, 1991. 345 p. | en |
| dc.relation.references | Bushnell M., Agrawal V. Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits. Springer Science & Business Media, 2000. 690 p. | en |
| dc.relation.references | Hamdioui S., van de Goor A. J., Rodgers M. March SS: A test for all static simple RAM faults // Proceedings of the IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing. 2002. P. 95–100. DOI: 10.1109/MTDT.2002.1029767 | en |
| dc.relation.references | Schroeder B., Pinheiro E., Weber W.D. DRAM errors in the wild: A large-scale field study // Proceedings of the ACM SIGMETRICS. 2009. Vol. 37, Issue 1. P. 193–204. | en |
