Прискорене тестування схем цифрових пристроїв

Abstract

В роботі розглянуто способи прискореного тестування схем цифрових пристроїв. Проаналізовано реалізацію різних методик тестування цифрових схем для вибору серед них таких сполучень процедур пошуку несправностей, які найкраще використовують апаратні властивості засобів внутрішньосхемного тестування.

Methods of accelerated testing of circuits of digital devices are considered in this work. The implementation of various methods of testing digital circuits has been analyzed to choose among such combinations of troubleshooting procedures that best utilize the hardware properties of in-circuit testing.