Показати скорочену інформацію

dc.contributor.authorДрачук, С. В.uk
dc.contributor.authorОзеранський, В. С.uk
dc.date.accessioned2018-05-25T11:12:31Z
dc.date.available2018-05-25T11:12:31Z
dc.date.issued2018
dc.identifier.citationДрачук С. В. Прискорене тестування схем цифрових пристроїв [Електронний ресурс] / С. В. Драчук, В. С. Озеранський // Матеріали XLVII науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 14-23 березня 2018 р. – Електрон. текст. дані. – 2018. – Режим доступу: https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-fitki/all-fitki-2018/paper/view/5353.uk
dc.identifier.urihttp://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/20543
dc.description.abstractВ роботі розглянуто способи прискореного тестування схем цифрових пристроїв. Проаналізовано реалізацію різних методик тестування цифрових схем для вибору серед них таких сполучень процедур пошуку несправностей, які найкраще використовують апаратні властивості засобів внутрішньосхемного тестування.uk
dc.description.abstractMethods of accelerated testing of circuits of digital devices are considered in this work. The implementation of various methods of testing digital circuits has been analyzed to choose among such combinations of troubleshooting procedures that best utilize the hardware properties of in-circuit testing.en
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherВНТУuk
dc.relation.ispartofМатеріали XLVII науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 14-23 березня 2018 р.uk
dc.relation.urihttps://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-fitki/all-fitki-2018/paper/view/5353
dc.subjectПрискорене тестуванняuk
dc.subjectвнутрішньосхемне тустуванняuk
dc.subjectцифрові пристроїuk
dc.subjectтехнічна діагностикаuk
dc.subjectAccelerated testingen
dc.subjectin-circuit testingen
dc.subjectdigital devicesen
dc.subjecttechnical diagnosticsen
dc.titleПрискорене тестування схем цифрових пристроївuk
dc.typeThesis
dc.identifier.udc518.681


Файли в цьому документі

Thumbnail

Даний документ включений в наступну(і) колекцію(ї)

Показати скорочену інформацію