Show simple item record

dc.contributor.authorКравченко, Юрій Степановичuk
dc.contributor.authorСавицький, Антон Юрійовичuk
dc.contributor.authorКравченко, Юрий Степановичru
dc.contributor.authorСавицкий, Антон Юрьевичru
dc.contributor.authorKravchenko, Yurii Stepanovychen
dc.contributor.authorSavytskyi, Anton Yuriiovychen
dc.date.accessioned2016-05-27T12:33:26Z
dc.date.available2016-05-27T12:33:26Z
dc.date.issued2008-04-10
dc.identifier31602
dc.identifier.citationПат. 31062 UA, МПК H01L 21/302. Спосіб плазмохімічної обробки матеріалів [Текст] / Ю. С. Кравченко, А. Ю. Савицький (Україна). - № u200714875 ; заявл. 27.12.2007 ; опубл. 10.04.2008, Бюл. № 7. - 2 с. : іл.uk
dc.identifier.urihttp://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/11414
dc.description.abstractСпосіб плазмохімічної обробки матеріалів полягає у травленні напівпровідникових пластин, що проводять в циліндричному реакторі, в якому плазму ВЧ-розряду збуджують при пониженому тиску плазмоутворюючого газу шляхом створення в реакторі високочастотного електричного поля напруженістю Е, яке зумовлює появу хімічно активних частинок плазми концентрацією N, пластини розташовують у спеціальних касетах на відстані h одна від одної. Крім того, відстань h між пластинами визначають пропорційно зміні співвідношення E/N.uk
dc.description.abstractСпособ плазмохимической обработки материалов состоит в травлении полупроводниковых пластин, которые проводят в цилиндрическом реакторе, в котором плазму ВЧ-разряда возбуждают при пониженном давлении плазмообразующего газа путем образования в реакторе высокочастотного электрического поля напряженностью Е, которое обуславливает появление химически активных частиц плазмы с концентрацией N, пластины располагают в специальных кассетах на расстоянием h между одна от другой. Расстояние определяют пропорционально смене соотношения E/N.ru
dc.description.abstractA method for treatment of plasmochemical metal material consists in etching semi-conductive plates made in a cylindrical reactor, wherein plasma of high-frequency discharge is excited at low pressure of plasma-supporting gas by means of formation in reactor of high-frequency field with E intensity that cause appearance of plasma chemically active particles having N concentration. Plates are arranged in special plate holders at a distance h one from another. Moreover, the h distance is determined proportional to change of the ratio E/N.en
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherДержавне підприємство "Український інститут промислової власності" (УКРПАТЕНТ)uk
dc.subjectелектронна технікаuk
dc.subjectH01L 21/302
dc.subjectобробка поверхні матеріалівuk
dc.subjectплазмохімічна обробка матеріалівuk
dc.subjectнапівпровідникові матеріалиuk
dc.titleСпосіб плазмохімічної обробки матеріалівuk
dc.title.alternativeМетод плазмохимической обработки материаловru
dc.title.alternativeMethod for plasmochemical treatment of materialsen
dc.typePatent


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record