Показати скорочену інформацію

dc.contributor.authorОсадчук, Володимир Степановичuk
dc.contributor.authorОсадчук, Олександр Володимировичuk
dc.contributor.authorКрилик, Людмила Вікторівнаuk
dc.contributor.authorДуда, Роман Валерійовичuk
dc.contributor.authorОсадчук, Владимир Степановичru
dc.contributor.authorОсадчук, Александр Владимировичru
dc.contributor.authorКрилик, Людмила Викторовнаru
dc.contributor.authorДуда, Роман Валериевичru
dc.contributor.authorOsadchuk, Volodymyr Stepanovychen
dc.contributor.authorOsadchyk, Oleksandr Volodymyrovychen
dc.contributor.authorKrylyk, Liudmyla Viktorivnaen
dc.date.accessioned2015-08-20T08:42:51Z
dc.date.available2015-08-20T08:42:51Z
dc.date.issued2013-10-25
dc.identifier84424
dc.identifier.citationПат. 84424 UA, МПК G01N 27/00. Мікроелектронний пристрій для визначення часу життя носіїв заряду в напівпровідниках [Текст] / В. С. Осадчук, О. В. Осадчук, Л. В. Крилик, Р. В. Дуда (Україна). - № u201303349 ; заявл. 19.03.2013 ; опубл. 25.10.2013, Бюл. № 20. - 5 с. : кресл.uk
dc.identifier.urihttp://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/1604
dc.description.abstractМікроелектронний пристрій для визначення часу життя носіїв заряду в напівпровідниках містить генератор спарених імпульсів, що складається з двох генераторів прямокутних імпульсів та лінії затримки, обмежувача імпульсів.uk
dc.description.abstractМикроэлектронное устройство для определения времени жизни носителей заряда в полупроводниках содержит генератор спаренных импульсов, который состоит из двух генераторов прямоугольных импульсов и линии задержки, ограничителя импульсов.ru
dc.description.abstractA microelectronic device for determination of lifetime of charge carriers in semiconductors includes a generator of paired pulses, this comprises two generators of rectangular pulses and a delay line, pulse restrictor.en
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherДержавне підприємство "Український інститут промислової власності" (УКРПАТЕНТ)uk
dc.subjectфізика напівпровідниківuk
dc.subjectG01N 27/00
dc.subjectмікроелектронна технікаuk
dc.subjectмікроелектронний пристрійuk
dc.subjectвиготовлення напівпровідникових структурuk
dc.subjectконтроль технологічних процесівuk
dc.titleМікроелектронний пристрій для визначення часу життя носіїв заряду в напівпровідникахuk
dc.title.alternativeМикроэлектронное устройство для определения времени жизни носителей заряда в полупроводникахru
dc.title.alternativeMicro-electronic device for determination of lifetime of charge carriers in semiconductorsen
dc.typePatent


Файли в цьому документі

Thumbnail

Даний документ включений в наступну(і) колекцію(ї)

Показати скорочену інформацію