Пристрій для дослідження багатоемітерних інтегральних транзисторів
Abstract
В даній статті розглянуто осболивості багатоемітерних інтегральних транзисторів. Розроблено пристрій для дослідження багатоемітерних інтегральних транзисторів. In article features of integrated battleship transistors. Developed device for the study of integrated battleship transistors.
URI:
https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-frtzp/all-frtzp-2017/paper/view/3005
http://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/17557