Пристрій для дослідження багатоемітерних інтегральних транзисторів
Анотації
В даній статті розглянуто осболивості багатоемітерних інтегральних транзисторів. Розроблено пристрій для дослідження багатоемітерних інтегральних транзисторів. In article features of integrated battleship transistors. Developed device for the study of integrated battleship transistors.
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей ресурс:
https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-frtzp/all-frtzp-2017/paper/view/3005
http://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/17557