Спосіб контролю та діагностування цифрових схем

Abstract

Винахід стосується контрольно-вимірювальної техніки. Спосіб полягає в тому, що на штучно виділені фрагменти схем об'єкта діагностики подають тестові дії, знімають відповідні реакції й порівнюють їх з еталонними значеннями. В об'єкті діагностування штучно виділяють фрагменти схем з однотипних елементів, які з'єднують послідовно й замикають колом зворотного зв'язку за допомогою тимчасових штучних кіл передачі тестових сигналів.

The invention relates to control-measuring equipment. The method is in fact that to artificially separated sections of circuits of object of diagnostics one supplies test affects, takes response reactions and compares those to standard values. In object of diagnostics one artificially separates fragments of circuits of same elements, those are connected in series with closing with back-coupling circuit by means of temporary artificial circuits of test signal transfer.

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Способ заключается в том, что на искусственно выделенные фрагменты схем объекта диагностирования подают тестовые воздействия, снимают ответные реакции и сравнивают их с эталонными значениями. В объекте диагностирования искусственно выделяют фрагменты схем из однотипных элементов, которые соединяют последовательно и замыкают цепью обратной связи с помощью временных искусственных цепей передачи тестовых сигналов.