| dc.contributor.author | Левчук, О. О. | uk |
| dc.contributor.author | Очкуров, М. А. | uk |
| dc.date.accessioned | 2020-08-17T11:22:47Z | |
| dc.date.available | 2020-08-17T11:22:47Z | |
| dc.date.issued | 2020 | |
| dc.identifier.citation | Левчук О. О. Діагностування запам’ятовуючих пристроїв комп’ютера із довільною вибіркою [Електронний ресурс] / О. О. Левчук, М. А. Очкуров // Матеріали XLIX науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 27-28 квітня 2020 р. – Електрон. текст. дані. – 2020. – Режим доступу: https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-fitki/all-fitki-2020/paper/view/101285. | uk |
| dc.identifier.uri | http://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/30296 | |
| dc.description.abstract | Запропоновано підхід до діагностування запам’ятовуючого пристрою комп’ютера із довільною вибіркою в умовах експлуатації. | uk |
| dc.description.abstract | The approach to diagnosing a random-accessed computer memory in operating conditions | en |
| dc.language.iso | uk_UA | uk_UA |
| dc.publisher | ВНТУ | uk |
| dc.relation.ispartof | Матеріали XLIX науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 27-28 квітня 2020 р. | uk |
| dc.relation.uri | https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-fitki/all-fitki-2020/paper/view/10128 | |
| dc.subject | запам’ятовуючі пристрої із довільною вибіркою | uk |
| dc.subject | дефекти | uk |
| dc.subject | моделі несправностей | uk |
| dc.subject | алгоритм діагностування | uk |
| dc.subject | random-access memory | en |
| dc.subject | defects | en |
| dc.subject | model of faults | en |
| dc.subject | diagnostic algorithm | en |
| dc.title | Діагностування запам’ятовуючих пристроїв комп’ютера із довільною вибіркою | uk |
| dc.type | Thesis | |
| dc.identifier.udc | 004.33 | |
| dc.relation.references | Логинов М. Техническое обслуживание средств вычислительной техники. / М.Логинов, Т.
Логинова. - М.: Бином. Лаборатория знаний, 2010. - 320 c. | ru |
| dc.relation.references | Фиоктистов В. Обзор технологий хранения информации. Часть 1. Принципы работы и
классификация ЗУ. - M.: Физматлит, 2006. – 246 с. | ru |
| dc.relation.references | Вейцман И.Н. Тестирование КМОП-схем / И.Н. Вейцман., О.М. Кондратьева // Автоматика и
телемеханика. 1991. №2. – с.3-34. | ru |
| dc.relation.references | Ярмолик В. Н. Тестовое диагностирование аппаратного и программного обеспечения
вычислительных систем / В.Н. Ярмолик, А.А. Иванюк // Доклады БГУИР. – 2014. – № 2(80).
– С. 127–142. | ru |
| dc.relation.references | Ryabtsev V.G. New Technology for Memory Tests Design / V.G. Ryabtsev, M.K. Almadi //
International Journal of Modern Trends in Engineering and Research (IJMTER).Volume 02, Issue
06, 2015. – P. 520–526. | en |
| dc.relation.references | Нэш Т. C# 2010: ускоренный курс для профессионалов. - M: Вильямс, 2011. - 1040 с. | ru |
