Розробка фізично коректної моделі відбиття другого степеня

Abstract

У статті описано розробку фізично коректної моделі відбиття світла на основі модифікованої моделі Шліка. Проаналізовано переваги та недоліки основних емпіричних моделей відбиття. Обґрунтовано необхідність розробки нових фізично коректних двопроменевих функцій відбивної здатності. Описано основні етапи обчислення нормуючого коефіцієнта для модифікованої моделі Шліка. Обчислено ідеальні значення нормуючого коефіцієнта відносно коефіцієнта спекулярності поверхні n. Отримано формулу залежності значення коефіцієнта від n. Обчислено значення абсолютної похибки напівсферичної інтегральної відбивної здатності від 1 для проміжку [2,1000]n∈.

In this article the development of physically correct light reflectance model which is based on the modified Schlick model is discussed. The advantages and disadvantages of main empirical reflectance models are discussed. The necessity of development of the new physically correct bidirectional reflectance distribution functions is shown. The main steps of normalizing coefficient calculation for the modified Schlick model are discussed. The ideal normalizing coefficient values depending on the surface specularity coefficient n were calculated. The formula of dependence between coefficient value and n was discovered. The absolute error value between 1 and hemispherical integral reflectivity value was calculated for the interval n ∈ [2,1000].