• English
    • українська
  • українська 
    • English
    • українська
  • Увійти
Дивитися документ 
  • Головна
  • Матеріали конференцій ВНТУ
  • Науково-технічні конференції підрозділів Вінницького національного технічного університету (НТКП ВНТУ)
  • LV НТКП ВНТУ (2026)
  • НТКП ВНТУ. Факультет електроенергетики та електромеханіки (2026)
  • Дивитися документ
  • Головна
  • Матеріали конференцій ВНТУ
  • Науково-технічні конференції підрозділів Вінницького національного технічного університету (НТКП ВНТУ)
  • LV НТКП ВНТУ (2026)
  • НТКП ВНТУ. Факультет електроенергетики та електромеханіки (2026)
  • Дивитися документ
Сайт інституційного репозитарію ВНТУ містить роботи, матеріали та файли, які були розміщені докторантами, аспірантами та студентами Вінницького Національного Технічного Університету. Для розширення функцій сайту рекомендується увімкнути JavaScript.

Недифузійний теплоперенос у наномасштабних транзисторах та новітні термоінтерфейси для мікропроцесорів

Автор
Ярован, Д. О.
Мартинюк, В. В.
Yarovan, D.
Martyniuk, V.
Дата
2026
Metadata
Показати повну інформацію
Collections
  • Наукові роботи каф. ЗФ [301]
  • НТКП ВНТУ. Факультет електроенергетики та електромеханіки (2026) [31]
Анотації
The paper examines the peculiarities of heat transfer in nanoscale transistor structures used in modern microprocessors. It is shown that when device dimensions approach nanometer scale the classical Fourier diffusion model cannot fully describe the real thermal processes. The role of phonons in heat transport, the mechanisms of hotspot formation in semiconductor devices, and the prospects of advanced thermal interface materials for improving heat dissipation are discussed.
 
У роботі розглядаються особливості теплопереносу у наномасштабних транзисторних структурах сучасних мікропроцесорів. Показано, що при зменшенні розмірів елементів електронних схем до нанометрів класична дифузійна модель теплопровідності перестає повністю описувати фізичні процеси. Проаналізовано роль фононів у перенесенні теплової енергії, механізми виникнення локальних перегрівів у напівпровідникових структурах та перспективи використання сучасних термоінтерфейсних матеріалів для підвищення ефективності відведення тепла.
 
URI:
https://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/50944
Відкрити
197558.pdf (302.4Kb)

Інституційний репозиторій

ГоловнаПошукДовідкаКонтактиПро нас

Ресурси

JetIQСайт бібліотекиСайт університетаЕлектронний каталог ВНТУ

Перегляд

Всі архівиСпільноти та колекціїЗа датою публікаціїАвторамиНазвамиТемамиТипВидавництвоМоваУДКISSNВидання, що міститьDOIЦя колекціяЗа датою публікаціїАвторамиНазвамиТемамиТипВидавництвоМоваУДКISSNВидання, що міститьDOI

Мій обліковий запис

ВхідРеєстрація

Статистика

View Usage Statistics

ISSN 2413-6360 | Головна | Відправити відгук | Довідка | Контакти | Про нас
© 2016 Vinnytsia National Technical University | Extra plugins code by VNTU Linuxoids | Powered by DSpace
Працює за підтримки 
НТБ ВНТУ