• English
    • українська
  • English 
    • English
    • українська
  • Login
View Item 
  • Frontpage
  • Патенти, авторські свідоцтва
  • Факультет інформаційних електронних систем
  • View Item
  • Frontpage
  • Патенти, авторські свідоцтва
  • Факультет інформаційних електронних систем
  • View Item
Сайт інституційного репозитарію ВНТУ містить роботи, матеріали та файли, які були розміщені докторантами, аспірантами та студентами Вінницького Національного Технічного Університету. Для розширення функцій сайту рекомендується увімкнути JavaScript.

Мікроелектронний шестизондовий пристрій для вимірювання напівпровідникового опору

Author
Нікешин, Юрій Ігорович
Осадчук, Олександр Володимирович
Никешин, Юрий Игоревич
Осадчук, Александр Владимирович
Nikeshyn, Yurii Ihorovych
Osadchyk, Oleksandr Volodymyrovych
Date
2012-04-10
Metadata
Show full item record
Collections
  • Факультет інформаційних електронних систем [678]
Abstract
Мікроелектронний шестизондовий пристрій для вимірювання напівпровідникового опору містить котушку індуктивності і ємність, яка підключена до джерела живлення. Введено шість зондів, друге та третє джерело живлення, два резистори, біполярний транзистор, який з'єднаний з котушкою індуктивності та другим джерелом живлення, та польовий транзистор, до якого підключені третій та четвертий зонди.
 
Микроэлектронное шестизондовое устройство для измерения полупроводникового сопротивления содержит катушку индуктивности и емкость, которая подключена к источнику питания. Введено шесть зондов, второй и третий источник питания, два резистора, биполярный транзистор, который соединен с катушкой индуктивности и вторым источником питания, и полевой транзистор, к которому подключены третий и четвертый зонды.
 
A microelectronic six-probe device for measuring semiconductor resistance comprises an inductance coil and a capacitance connected to a power source. In the device there are introduced six probes, second and third power sources, two resistors, a bipolar transistor connected to the inductance coil and the second power source, and a field effect transistor, to which the third and forth probes are connected.
 
URI:
http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/586
View/Open
68937.pdf (210.9Kb)

Institutional Repository

FrontpageSearchHelpContact UsAbout Us

University Resources

JetIQLibrary websiteUniversity websiteE-catalog of VNTU

Browse

All of DSpaceCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsTypePublisherLanguageUdcISSNPublicationDOIThis CollectionBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsTypePublisherLanguageUdcISSNPublicationDOI

My Account

LoginRegister

Statistics

View Usage Statistics

ISSN 2413-6360 | Frontpage | Send Feedback | Help | Contact Us | About Us
© 2016 Vinnytsia National Technical University | Extra plugins code by VNTU Linuxoids | Powered by DSpace
Працює за підтримки 
НТБ ВНТУ