Метод вхідного контролю структурно-чутливих параметрів некристалічних напівпровідників

Автор
Осадчук, О. В.
Барабан, С. В.
Семенов, А. О.
Дата
2012
Metadata
Показати повну інформацію
Collections
Анотації
Розроблено метод вхідного контролю структурно-чутливих параметрів некристалічних напівпровідників на основі диференційно-термічного аналізу.
 
The method of input control of structure-sensitive parameters of amorphous semiconductors based on the differential thermal analysis was developed.
 
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей ресурс:
http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/9201
Відкрити