| dc.contributor.author | Осадчук, О. В. | uk |
| dc.contributor.author | Барабан, С. В. | uk |
| dc.contributor.author | Семенов, А. О. | uk |
| dc.date.accessioned | 2016-03-23T11:35:32Z | |
| dc.date.available | 2016-03-23T11:35:32Z | |
| dc.date.issued | 2012 | |
| dc.identifier.citation | Осадчук О. В. Метод вхідного контролю структурно-чутливих параметрів некристалічних напівпровідників [Текст] / О. В. Осадчук, C. В. Барабан, А. О. Семенов // Вісник Хмельницького національного університету. Серія "Технічні науки". - 2012. - № 3. - С. 90-93. | uk |
| dc.identifier.issn | 2226-9150 | |
| dc.identifier.uri | http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/9201 | |
| dc.description.abstract | Розроблено метод вхідного контролю структурно-чутливих параметрів некристалічних напівпровідників на основі диференційно-термічного аналізу. | uk |
| dc.description.abstract | The method of input control of structure-sensitive parameters of amorphous semiconductors based on the differential thermal analysis was developed. | en |
| dc.language.iso | uk_UA | uk_UA |
| dc.publisher | Хмельницький національний університет | uk |
| dc.relation.ispartofseries | Технічні науки | uk |
| dc.subject | диференційно-термічний аналіз | uk |
| dc.subject | вхідний контроль | uk |
| dc.subject | критерій Фішера | uk |
| dc.subject | критерій Ст'юдента | uk |
| dc.subject | пам'ять на фазових переходах | uk |
| dc.title | Метод вхідного контролю структурно-чутливих параметрів некристалічних напівпровідників | uk |
| dc.type | Article | |
| dc.identifier.udc | 658.562.42 | |
