Спосіб вимірювання товщини діелектричних покрить на металевих поверхнях
Author
Шабатура, Юрій Васильович
Овчинников, Костянтин В'ячеславович
Шабатура, Юрий Васильович
Овчинников, Константин Вячеславович
Shabatura, Yurii Vasyliovych
Ovchynnykov, Kostiantyn Vіасhеslаvоvусh
Date
2007-08-25Metadata
Show full item recordCollections
Abstract
Спосіб вимірювання товщини діелектричних покрить на металевих поверхнях може бути використаний для контролю процесу їх нанесення на металеві поверхні. Предлагается способ измерения толщины диэлектрического покрытия на металлической поверхности. It is proposed a method for measuring the thickness of dielectric coating on a metallic surface.
Please use this identifier to cite or link to this item:
http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/1527