| dc.contributor.author | Шабатура, Юрій Васильович | uk |
| dc.contributor.author | Овчинников, Костянтин В'ячеславович | uk |
| dc.contributor.author | Шабатура, Юрий Васильович | ru |
| dc.contributor.author | Овчинников, Константин Вячеславович | ru |
| dc.contributor.author | Shabatura, Yurii Vasyliovych | en |
| dc.contributor.author | Ovchynnykov, Kostiantyn Vіасhеslаvоvусh | en |
| dc.date.accessioned | 2015-07-30T08:33:06Z | |
| dc.date.available | 2015-07-30T08:33:06Z | |
| dc.date.issued | 2007-08-25 | |
| dc.identifier | 26546 | |
| dc.identifier.citation | Пат. 26546 UA, МПК G01B 5/00. Спосіб вимірювання товщини діелектричних покрить на металевих поверхнях [Текст] / Ю. В. Шабатура, К. В. Овчинников (Україна). - № u200705608 ; заявл. 21.05.2007 ; опубл. 25.09.2007, Бюл. № 15. - 3 с. : кресл. | uk |
| dc.identifier.uri | http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/1527 | |
| dc.description.abstract | Спосіб вимірювання товщини діелектричних покрить на металевих поверхнях може бути використаний для контролю процесу їх нанесення на металеві поверхні. | uk |
| dc.description.abstract | Предлагается способ измерения толщины диэлектрического покрытия на металлической поверхности. | ru |
| dc.description.abstract | It is proposed a method for measuring the thickness of dielectric coating on a metallic surface. | en |
| dc.language.iso | uk_UA | uk_UA |
| dc.publisher | Державне підприємство "Український інститут промислової власності" | uk |
| dc.subject | G01B 5/00 | |
| dc.subject | покритття металевих поверхонь | uk |
| dc.subject | вимірювання товщини покриття | uk |
| dc.subject | діелектричне покриття | uk |
| dc.title | Спосіб вимірювання товщини діелектричних покрить на металевих поверхнях | uk |
| dc.title.alternative | Способ измерения толщины диэлектрического покрытия на металлической поверхности | ru |
| dc.title.alternative | METHOD FOR MEASURING THE THICKNESS OF DIELECTRIC COATING ON A METALLIC SURFACE | en |
| dc.type | Patent | |
